ISPLSI2128E-135LT176 是由 Lattice Semiconductor 生产的一款高性能可编程逻辑器件(PLD),属于其 ispLSI? 2000E 系列。该芯片基于 E2CMOS? 非易失性存储技术,具备上电即用的特性,适用于需要快速响应和高可靠性的应用场合。ISPLSI2128E-135LT176 具有128个宏单元,可提供高达2500个逻辑门的容量,适合用于复杂的状态机控制、接口协议实现以及数字信号处理任务。
型号: ISPLSI2128E-135LT176
制造商: Lattice Semiconductor
封装类型: TQFP
引脚数: 176
工作电压: 3.3V 或 5V 可选
宏单元数: 128
最大逻辑门数: 2500
最大频率: 135 MHz
工作温度范围: 工业级 (-40°C 至 +85°C)
可编程技术: E2CMOS 非易失性存储器
传输延迟: 最大 7.5ns
ISPLSI2128E-135LT176 是一款功能强大的可编程逻辑器件,具备非易失性存储器技术,使其在上电后无需重新加载配置数据,提高了系统启动的速度和稳定性。该芯片集成了128个宏单元,每个宏单元都可以独立配置为组合逻辑、寄存器或状态机逻辑,从而实现高度灵活的逻辑设计。其最大工作频率可达135 MHz,满足高速信号处理的需求。此外,ISPLSI2128E-135LT176 支持3.3V或5V电源供电,具备良好的兼容性,能够在多种系统环境中运行。该器件的I/O引脚支持多种电平标准,包括LVTTL、LVCMOS、SSTL等,便于与外部器件连接。其TQFP封装形式不仅节省空间,还便于PCB布线,适用于高密度设计。
该芯片还具备在系统可编程性(In-System Programmability, ISP),可以通过JTAG接口进行现场升级和调试,提升了设计的灵活性和维护的便捷性。内置的全局时钟网络和可编程的时钟使能功能,有助于减少时钟偏移并提高系统性能。ISPLSI2128E-135LT176 还支持边界扫描测试(Boundary-Scan Test, BST),符合IEEE 1149.1 JTAG标准,能够有效提高测试覆盖率和故障诊断能力。
ISPLSI2128E-135LT176 适用于多种需要高性能可编程逻辑的应用场景,例如工业自动化控制、通信设备、嵌入式系统、数据采集系统、测试测量设备以及消费类电子产品。由于其高速性能和非易失性存储特性,特别适合用于对启动时间和系统稳定性有较高要求的控制系统。在通信领域,该器件可用于实现协议转换、帧同步、错误检测等功能;在工业控制中,它可用于构建复杂的状态机以实现高精度的时序控制。此外,其JTAG调试接口和边界扫描测试功能也使其成为研发和维护阶段的理想选择。
Lattice ispMACH 4000Z、Xilinx XC9500XL、Intel MAX II EPM2210