容量：4Mbit（512KB）
　　电压范围：2.7V - 3.6V
　　访问时间：90ns
　　接口类型：并行
　　封装类型：TSOP
　　工作温度范围：工业级（-40°C 至 +85°C）
　　数据保持时间：大于10年
　　擦写次数：10万次以上

HY29F400ABT-90 Flash芯片具备出色的稳定性和可靠性，适用于多种应用场景。其主要特性包括：支持快速随机访问，访问时间低至90ns，能够满足高速数据读取的需求；芯片采用CMOS工艺制造，具有较低的功耗，在待机模式下电流消耗极小；支持软件控制的擦写操作，包括扇区擦除和整片擦除，便于进行数据更新和管理；芯片内建擦写状态检测机制，用户可以通过状态寄存器查询操作进度，提高系统的可控性；此外，该芯片具备良好的抗干扰能力和耐用性，适合在工业环境下长期运行。
　　HY29F400ABT-90的另一个显著特点是其兼容性较强，支持JEDEC标准并行接口，能够与多种微控制器、DSP和嵌入式处理器无缝连接。其扇区结构设计灵活，允许用户根据需要单独擦除特定区域，而不影响其他数据，从而提高系统更新效率并延长芯片使用寿命。此外，该芯片支持低电压检测功能，能够在电源不稳定时防止误写操作，保障数据完整性。

HY29F400ABT-90因其稳定性和高速访问特性，被广泛应用于多个领域。典型应用包括工业控制系统、通信设备、测试仪器、消费类电子产品中的固件存储、嵌入式系统中的启动代码存储（如BIOS或Bootloader）、手持设备和便携式仪器等。此外，该芯片也可用于汽车电子系统中，如车载导航、ECU（电子控制单元）固件存储等对可靠性要求较高的场景。在需要中等容量、快速访问且数据需要长期保存的应用中，HY29F400ABT-90是一个经济且可靠的选择。

AM29F400BB-90, M29F400AB-90N1