HCPL-665K是一款由Broadcom(原Avago Technologies)推出的高速光耦合器,广泛应用于需要电气隔离的数字信号传输场合。该器件采用CMOS工艺制造,内部集成了一个发光二极管(LED)、一个光电探测器以及一个高增益、高速的输出放大电路,能够实现最高达10MBd的数据传输速率。HCPL-665K属于双通道光耦产品系列,两个通道相互独立,可提供双向或单向信号隔离功能,适用于工业自动化、电源控制、通信接口和电机驱动等对隔离性能要求较高的系统中。
该光耦采用8引脚DIP(双列直插式封装),符合UL 1577和CSA等国际安全标准,具备优异的抗电磁干扰(EMI)能力和长期可靠性。其工作温度范围为-40°C至+105°C,适合在严苛的工业环境中稳定运行。HCPL-665K支持宽电源电压操作,逻辑侧供电范围为3V至5.5V,与TTL及CMOS电平兼容,便于集成到现代低电压控制系统中。此外,该器件具有高共模瞬态抗扰度(CMTI),典型值超过15kV/μs,能有效防止因快速电压变化引起的误触发问题,确保信号传输的准确性与系统的稳定性。
型号:HCPL-665K
通道数:2
数据速率:10 MBd
隔离电压:3750 Vrms
工作温度范围:-40°C 至 +105°C
电源电压(VCC):3 V 至 5.5 V
传播延迟时间(tpLH / tpHL):典型值 500 ns
共模瞬态抗扰度(CMTI):>15 kV/μs
封装类型:8-Pin DIP
安全认证:UL 1577,CSA
电流传输比(CTR):不适用(数字输出型)
上升/下降时间:典型值 400 ns
HCPL-665K具备出色的电气隔离性能和高速信号传输能力,是工业级光耦中的代表性产品之一。其核心优势在于高共模瞬态抗扰度(CMTI),该参数典型值超过15kV/μs,能够在存在强烈电磁干扰或地电位波动的复杂环境中保持信号完整性,避免因共模噪声导致的误码或系统故障。这一特性使其特别适用于变频器、伺服驱动器和开关电源等电力电子设备中,用于隔离控制信号与功率回路之间的连接。
该器件采用CMOS输出级设计,提供推挽式数字输出结构,无需外部上拉电阻即可直接驱动微控制器、FPGA或逻辑门电路,简化了外围电路设计并降低了功耗。同时,其低传播延迟(典型500ns)和匹配的上升/下降时间(约400ns)保证了信号时序的一致性,支持精确的时间控制应用。
HCPL-665K的双通道架构允许用户灵活配置为两个独立的单向通道或组合使用以实现更复杂的隔离逻辑。每个通道都经过严格测试,确保在全温度范围内性能稳定。此外,该器件通过了UL和CSA等国际安全标准认证,提供了高达3750Vrms的隔离电压,满足大多数工业和医疗设备的安全要求。
由于其宽电源电压范围(3V~5.5V)和TTL/CMOS电平兼容性,HCPL-665K可以无缝接入现代低压数字系统,包括基于3.3V供电的嵌入式平台。这使得它在升级传统5V系统或构建混合电压架构时具有很高的适应性。整体而言,HCPL-665K结合了高速、高可靠性与易用性,是一款理想的工业隔离解决方案。
HCPL-665K广泛应用于各类需要电气隔离的工业与电力电子系统中。常见用途包括可编程逻辑控制器(PLC)的数字输入/输出模块,用于将现场传感器或执行器信号与内部逻辑电路隔离开来,防止高压窜入损坏主控单元。在交流驱动器和逆变器中,该光耦常被用来传输PWM控制信号,确保栅极驱动电路与主控MCU之间实现可靠隔离,从而提升系统的安全性与抗干扰能力。
此外,在开关模式电源(SMPS)中,HCPL-665K可用于反馈环路或状态监测信号的隔离传输,帮助构建闭环稳压系统。其高CMTI特性尤其适合在高di/dt环境下工作,如大功率IGBT或MOSFET的驱动电路中,有效抑制开关噪声对控制信号的影响。
通信接口方面,该器件也适用于RS-485、CAN总线等差分通信线路的信号隔离,增强网络节点的抗浪涌与接地环路抑制能力。在医疗设备和测试仪器中,由于对患者安全和信号精度要求极高,HCPL-665K提供的高隔离电压和稳定传输性能也使其成为优选器件之一。
HCPL-063L
HCPL-0731
ACPL-M61L
6N137