类型：光耦合器
　　通道数：1
　　输出类型：CMOS
　　最大数据速率：10 MBd
　　电流传输比（CTR）：不适用（CMOS输出）
　　隔离电压：5000 VRMS
　　工作温度范围：-55°C 至 +100°C
　　供电电压（VCC）：4.5V 至 5.5V
　　逻辑低电平输出电压（VOL）：≤ 0.5V
　　逻辑高电平输出电流（IOH）：-4 mA
　　逻辑低电平输出电流（IOL）：16 mA
　　传播延迟时间（tPLH/tPHL）：典型值75 ns / 90 ns
　　上升/下降时间：典型值35 ns / 25 ns
　　封装类型：8-DIP（双列直插）
　　UL认证：UL 1577 认证，5000 VRMS，1分钟

HCPL-181-00D的核心优势之一是其基于CMOS技术的集成光电检测电路，这使其相较于传统光电晶体管输出型光耦具有更高的响应速度和更稳定的输出特性。该器件内部包含一个高性能砷化镓磷（GaAsP）发光二极管，能够在较低的驱动电流下产生足够的光强以触发接收端的光电探测器。与此同时，接收端采用的是带有施密特触发器输入的CMOS逻辑电路，具备良好的抗噪声能力和快速的信号整形功能，确保输出信号的干净与稳定。
　　该光耦支持高达10 MBd的数据传输速率，远超普通光耦的1-2 MBd水平，因此非常适合用于高速数字隔离场合，例如微控制器与功率模块之间的通信隔离、编码器信号传输或PLC数字I/O模块中。其传播延迟时间短且匹配良好（tPLH和tPHL差异小），有助于减少信号抖动，提高系统时序精度。
　　另一个重要特性是其输出端为推挽式CMOS结构，能够直接驱动TTL或CMOS逻辑电路，无需外部上拉电阻，简化了外围设计并降低了功耗。同时，该结构提供了较强的驱动能力（可吸收16mA电流），增强了系统的负载适应性。
　　HCPL-181-00D还具备优异的共模瞬态抗扰度（CMTI），典型值超过15 kV/μs，意味着即使在存在快速电压变化的高压环境中（如变频器或逆变器），也能可靠地保持信号完整性而不发生误触发。
　　此外，该器件通过了严格的安规认证，包括UL 1577和CSA，隔离电压达5000 VRMS，满足工业设备对电气安全的高标准要求。其宽工作温度范围使其可在极端环境下长期稳定运行，提升了整体系统可靠性。

HCPL-181-00D广泛应用于需要高速信号隔离和高抗干扰能力的工业电子系统中。典型应用场景包括交流伺服驱动器中的PWM信号隔离，用于将控制器产生的脉冲信号安全传递给IGBT或MOSFET栅极驱动电路，避免高侧电压对低压控制部分造成影响。此外，在可编程逻辑控制器（PLC）的数字输入/输出模块中，该光耦可用于隔离现场传感器或执行器信号，提升系统的抗噪性能和安全性。
　　在开关电源领域，特别是反激式或半桥拓扑结构中，HCPL-181-00D可用于反馈环路中的误差信号传输，实现初级侧与次级侧之间的隔离通信，从而精确调节输出电压。虽然部分应用可能使用专用的光耦如PC817进行反馈，但当需要更高响应速度或更精确的动态调节时，HCPL-181-00D成为更优选择。
　　在电机控制系统中，尤其是在编码器信号隔离方面，该器件能有效防止地电位差引起的信号失真，保障位置反馈的准确性。同样，在工业通信接口如RS-485或CAN总线的隔离设计中，也可采用此类高速光耦来实现节点间的电气隔离。
　　此外，医疗设备、测试测量仪器以及太阳能逆变器等对安全性和稳定性要求较高的设备也常采用HCPL-181-00D作为关键隔离元件。其高CMTI性能和长期稳定性使其特别适合部署在电磁环境复杂、电压波动频繁的现场环境中。

HCPL-0723
　　ACPL-M61L
　　6N137