HCPL-061N-560E是一款由Broadcom(原Avago Technologies)推出的高速光耦合器,属于其HCPL系列光隔离器件之一。该器件集成了一个发光二极管(LED)和一个集成的光电探测器,采用CMOS输出电路设计,具备高抗噪能力和快速响应特性。它广泛应用于需要电气隔离的数字信号传输场景中,如工业自动化、电源控制、电机驱动以及通信系统等。HCPL-061N-560E采用8引脚DIP(双列直插式封装),支持宽工作温度范围,符合安全标准,适用于恶劣工业环境下的长期稳定运行。
该光耦的最大数据传输速率可达10 MBd(兆波特),适合高速数字信号隔离需求。其内部结构经过优化设计,具有较低的传播延迟和较小的延迟偏移,确保了信号完整性。此外,HCPL-061N-560E通过了UL、CSA、VDE等多种国际安全认证,保证了在高电压隔离应用中的可靠性与安全性。
制造商:Broadcom Limited
产品系列:HCPL-061N
封装类型:SOIC-8
通道数:1
输入正向电流最大值:25 mA
输入反向电压:6 V
输出类型:CMOS
最大数据速率:10 MBd
传播延迟时间(典型值):75 ns
上升/下降时间(典型值):45 ns
工作温度范围:-40°C ~ +105°C
电源电压范围(VCC):3.0 V ~ 5.5 V
隔离电压(RMS):3750 Vrms(1分钟,UL 1577)
绝缘爬电距离:8 mm
绝缘间隙:8 mm
认证:UL, CSA, VDE EN 60747-5-2
HCPL-061N-560E具备优异的电气隔离性能和高速信号传输能力,是现代工业控制系统中理想的光耦解决方案之一。其核心优势在于采用了集成化CMOS光电探测器,相较于传统的开集电极输出光耦,能够提供更强的驱动能力和更低的功耗。这种设计使得输出端无需外部上拉电阻即可直接连接到逻辑电路,简化了PCB布局并减少了外围元件数量,提高了系统的整体可靠性。
该器件的传播延迟非常低,在典型条件下仅为75ns,并且上下行路径之间的延迟偏差小,有助于保持数字信号的同步性和完整性,特别适用于PWM(脉宽调制)信号隔离、编码器反馈传输以及开关电源中的栅极驱动隔离等对时序要求较高的场合。同时,其共模瞬态抗扰度(CMTI)高达15 kV/μs,能够在存在强烈电磁干扰的环境中稳定工作,有效防止误触发或信号失真。
HCPL-061N-560E还具备良好的温度稳定性,可在-40°C至+105°C的宽温范围内正常工作,满足工业级应用的需求。其封装符合RoHS环保标准,并通过了IEC/EN/DIN EN 60747-5-2等国际安全规范认证,支持长达60年的预期使用寿命(依据UL1577)。此外,该光耦的LED输入端具有较高的灵敏度,可以在较低的驱动电流下实现可靠导通,从而降低功耗并延长LED寿命。综合来看,HCPL-061N-560E以其高速性、高隔离度、强抗干扰能力和长期稳定性,成为众多高端工业和电源应用中的首选隔离器件。
HCPL-061N-560E广泛应用于需要高速、高可靠性信号隔离的各种电子系统中。典型应用场景包括工业自动化控制系统中的数字I/O隔离模块,用于将微控制器或PLC的低压逻辑信号与现场传感器或执行器进行电气隔离,避免高压窜入损坏敏感电路。在变频器和伺服驱动器中,它常被用来隔离PWM控制信号,确保功率级与控制级之间的安全隔离,同时维持精确的时序控制。
在开关电源和DC-DC转换器中,HCPL-061N-560E可用于反馈环路中的误差信号传输,实现输出电压的精准调节,同时提供必要的绝缘保护。由于其支持3.3V和5V逻辑电平兼容,因此非常适合现代混合电压系统的设计需求。在电机驱动系统中,该光耦可用于隔离来自控制器的使能、方向或故障信号,提升系统的抗干扰能力。
此外,HCPL-061N-560E也适用于医疗设备、测试测量仪器以及通信电源等对安全性和稳定性要求极高的领域。其高隔离电压和长爬电距离使其能够满足严格的安规要求,适用于Class I和Class II绝缘系统设计。在可再生能源系统如光伏逆变器中,该器件同样发挥着重要作用,用于隔离监测信号或通信接口,保障系统在复杂电网环境下的可靠运行。
HCPL-063L-500E
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