GA1206A681FBLBT31G 是一款由 GaN Systems 公司生产的氮化镓 (GaN) 高电子迁移率晶体管 (HEMT),基于增强型设计。该器件适用于高频、高效率的电力电子应用,例如开关电源、DC-DC 转换器、无线充电系统以及电机驱动等场景。
这款 GaN 晶体管采用了岛状结构设计,具备较低的导通电阻和电容特性,从而显著提升了其开关性能与功率密度。同时,它支持高达 650V 的阻断电压,并提供极低的导通电阻(Rds(on)),以减少传导损耗。
最大漏源电压:650V
最大栅源电压:+6V/-4V
导通电阻(典型值):40mΩ
连续漏极电流(25°C):15A
脉冲漏极电流:75A
输入电容:890pF
输出电容:120pF
反向传输电容:1.8pF
工作温度范围:-55°C 至 +150°C
封装形式:LLCSP-8
该 GaN 晶体管具有以下主要特点:
1. 增强模式操作,确保在正栅极驱动下开启,负栅极驱动时关闭,提高了使用的安全性。
2. 极低的导通电阻,可有效降低功率损耗。
3. 快速开关速度,减少了开关损耗并提升了整体效率。
4. 减小了寄生电感和电容效应,进一步优化了高频下的性能表现。
5. 符合 RoHS 标准,环保且可靠。
6. 封装紧凑,适合高密度电路板设计。
这些特性使得 GA1206A681FBLBT31G 在各种高效能应用中表现出色。
GA1206A681FBLBT31G 主要应用于以下领域:
1. 开关电源(SMPS)
2. DC-DC 转换器
3. 无线充电设备
4. 电机驱动
5. 新能源汽车中的车载充电器
6. 数据中心服务器电源
7. 工业自动化控制
由于其优异的高频特性和低损耗特性,该器件特别适合需要高效率和快速动态响应的应用场景。
GS66508T