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ELJND39NJF 发布时间 时间:2025/12/3 17:21:12 查看 阅读:25

ELJND39NJF是村田制作所(Murata Manufacturing Co., Ltd.)生产的一款多层陶瓷电容器(MLCC)。该器件属于ELJ系列,专为高稳定性和高可靠性的电子电路设计而开发。ELJND39NJF具有较小的封装尺寸和良好的温度稳定性,适用于各种消费类电子产品、工业控制设备以及通信系统中的去耦、滤波和旁路应用。该电容器采用镍阻挡层端子结构(Ni barrier terminal structure),增强了抗硫化能力,并提高了在恶劣环境下的长期可靠性。其额定电压为50V DC,电容值为3.9pF,公差为±0.1pF,属于C0G(NP0)温度补偿型介质材料类别,具备极低的电容随温度、电压和时间的变化率,适合用于对精度要求较高的高频电路中。

参数

品牌:Murata
  型号:ELJND39NJF
  类型:多层陶瓷电容器(MLCC)
  电容值:3.9pF
  电容公差:±0.1pF
  额定电压:50V DC
  温度特性:C0G(NP0)
  工作温度范围:-55°C 至 +125°C
  介质材料:C0G(NP0)
  封装尺寸:0603(1608公制)
  尺寸(长×宽×高):1.6mm × 0.8mm × 0.8mm
  端子类型:镍阻挡层(Ni Barrier)
  焊接方式:回流焊
  抗硫化性能:有
  电容温度系数:0±30ppm/°C
  绝缘电阻:≥10000MΩ 或 R×C≥500S
  耐电压:1.5倍额定电压,1分钟无击穿或闪络
  ESR(等效串联电阻):极低
  Q值:高Q值,典型值>1000 @ 1MHz
  老化率:C0G材质,无明显老化现象

特性

ELJND39NJF采用C0G(NP0)陶瓷介质材料,这是一种具有极高稳定性的Ⅰ类陶瓷材料,能够在整个工作温度范围内保持电容值的高度恒定,其电容变化不超过±30ppm/°C,远优于X7R、Y5V等Ⅱ类介质材料。这种优异的温度稳定性使得该电容器非常适合应用于振荡器、滤波器、谐振电路、RF匹配网络以及其他对频率稳定性要求严格的高频模拟电路中。
  C0G材质还具备几乎为零的老化率,不会像其他介电材料那样随着时间推移发生电容衰减,从而确保了长期运行的可靠性。此外,由于其线性响应特性,电容值不受施加电压的影响,在不同偏置电压下仍能维持标称容量,避免了因电压波动导致的性能漂移问题。
  该器件采用0603小型化封装,满足现代电子设备向轻薄短小发展的趋势,同时兼顾电气性能与机械强度。镍阻挡层端子结构有效防止了银离子迁移和硫化腐蚀,提升了在高湿、高温及含硫环境中的耐久性,特别适用于汽车电子、工业传感器和户外通信模块等严苛应用场景。
  ELJND39NJF通过AEC-Q200认证的可能性较高(需查证具体批次),符合RoHS指令要求,支持无铅回流焊接工艺,兼容自动化贴片生产线,便于大规模量产使用。其高Q值和低损耗因子使其在GHz以下频段表现出色,广泛用于LC调谐电路、射频放大器输入输出匹配、时钟生成电路去噪等场合。

应用

ELJND39NJF因其出色的电气稳定性和高频性能,被广泛应用于需要高精度电容值的射频和模拟电路中。常见用途包括无线通信设备中的RF滤波器和阻抗匹配网络,如Wi-Fi模块、蓝牙收发器、蜂窝基站前端电路等,用于保证信号通带内的平坦响应和最小插入损耗。
  在振荡电路中,例如晶体振荡器、SAW滤波器周边电路或PLL锁相环的反馈路径中,该电容器可用于精确设定谐振点,提高频率稳定性,减少相位噪声。其低ESR和高Q值有助于提升振荡回路的品质因数,增强选频能力。
  在精密测量仪器、测试设备和医疗电子设备中,ELJND39NJF可用于构建高稳定性RC网络,实现精准的时间常数控制和信号调理功能。此外,在电源去耦方面,虽然其电容值较小,但在高频段可有效滤除高频噪声,常与其他大容量电容并联使用,形成多级去耦结构,以优化电源完整性。
  工业控制系统、汽车电子(尤其是信息娱乐系统和ADAS传感器接口)以及航空航天电子系统也常采用此类高可靠性MLCC,以应对复杂电磁环境和极端温度变化带来的挑战。其抗硫化设计尤其适合部署在含有工业废气或沿海高盐雾环境的应用场景中。

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ELJND39NJF参数

  • 容差±5%
  • 封装/外壳2012
  • 尺寸2 x 1.25 x 1.25mm
  • 最低工作温度-20°C
  • 最大直流电流390mA
  • 最大直流电阻值0.41Ω
  • 最大自谐振频率2000MHz
  • 最小质量系数15
  • 最高工作温度+85°C
  • 深度1.25mm
  • 电感值39 nH
  • 长度2mm
  • 高度1.25mm