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CY14B104NA-ZS25XI 发布时间 时间:2025/11/4 2:28:08 查看 阅读:16

CY14B104NA-ZS25XI是一款由Infineon Technologies(英飞凌)推出的4兆位(512K × 8)的串行铁电随机存取存储器(F-RAM),结合了非易失性数据存储与SRAM级别的读写性能。该器件采用先进的铁电技术,取代传统的基于电池的SRAM或需要写入延迟的EEPROM和闪存解决方案,提供无限次写入耐久性和极低功耗的数据保持能力。CY14B104NA-ZS25XI通过SPI(串行外设接口)进行通信,支持标准、双线或四线SPI协议,使其能够广泛应用于工业控制、医疗设备、智能仪表、汽车电子以及需要频繁数据记录和高可靠性存储的场景中。该芯片在上电和断电过程中自动将SRAM内容保存至F-RAM阵列,并在下次上电时恢复,这一功能被称为“非易失性存储”(Autostore),也可通过硬件指令手动触发(Hardware Store)。器件封装为8引脚SOIC,符合工业级温度范围(-40°C至+85°C),并具备高抗辐射和抗电磁干扰能力,适用于恶劣环境下的稳定运行。

参数

存储容量:4 Mbit (512K × 8)
  接口类型:SPI (支持单/双/四线模式)
  时钟频率:最高25 MHz
  工作电压:2.7V 至 3.6V
  工作温度:-40°C 至 +85°C
  封装形式:8-SOIC
  写入耐久性:> 10^14 次写周期
  数据保持时间:> 10 年(在+85°C下)
  自存储时间:最大 20 ms(典型值)
  待机电流:20 μA(典型值)
  活动电流:6 mA(典型值,25 MHz)

特性

CY14B104NA-ZS25XI的核心特性之一是其基于铁电技术的非易失性存储机制,利用铁电电容替代传统电介质,能够在无需外部电源的情况下长期保存数据,同时避免了传统EEPROM或闪存因氧化层磨损而导致的寿命限制。其写入耐久性高达10^14次,远超普通EEPROM的10^6次和闪存的10^5次,使得该器件特别适合需要高频数据采集与记录的应用场景,如工业传感器日志、医疗监测设备数据缓存等。此外,由于F-RAM无需写入延时(Write Delay),所有写操作均为即时完成,极大提升了系统响应速度和效率。
  该器件支持多种SPI通信模式,包括Mode 0和Mode 3,兼容广泛的主控MCU和处理器。通过灵活的命令集,用户可执行读取、写入、写使能、写禁止、状态寄存器访问以及硬件触发的自存储操作。其中,硬件自存储功能通过检测特定引脚(如HSB)的上升沿或下降沿自动启动SRAM到F-RAM的数据保存过程,在突发断电或紧急关机时确保关键数据不丢失。此功能无需软件干预,提高了系统的可靠性和故障恢复能力。
  在功耗管理方面,CY14B104NA-ZS25XI具有极低的待机电流(典型20μA),非常适合电池供电或能量受限的嵌入式系统。即使在频繁写入操作下,其功耗也显著低于需要高压编程的传统非易失性存储器。同时,器件内置数据轮询保护机制,防止误写操作,并可通过软件写保护区域设定来增强数据安全性。整体设计符合RoHS标准,具备良好的抗噪声能力和稳定性,可在高电磁干扰环境中可靠运行。

应用

CY14B104NA-ZS25XI广泛应用于对数据完整性、写入速度和耐久性要求较高的工业与嵌入式系统中。典型应用场景包括工厂自动化控制系统中的实时参数记录、PLC模块中的配置信息存储、智能电表和水表中的使用数据日志、医疗设备中的患者治疗记录保存等。在汽车电子领域,它可用于车载诊断系统(OBD)中故障码的快速写入与持久化存储,或作为高级驾驶辅助系统(ADAS)中传感器校准数据的备份单元。此外,在POS终端、打印机、条码扫描器等商业设备中,该芯片可用于交易日志、打印队列缓存的高速写入与断电保护。由于其无需电池即可实现非易失性存储,还可替代传统的BBSRAM(电池供电SRAM),消除电池更换维护成本及环境污染风险,提升产品整体可靠性与环保等级。

替代型号

FM25V05-GTR
  CY15B104QI-PZSXI
  MB85RS4MT

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CY14B104NA-ZS25XI参数

  • 数据列表CY14B104LA/NA
  • 标准包装135
  • 类别集成电路 (IC)
  • 家庭存储器
  • 系列-
  • 格式 - 存储器RAM
  • 存储器类型NVSRAM(非易失 SRAM)
  • 存储容量4M (256K x 16)
  • 速度25ns
  • 接口并联
  • 电源电压2.7 V ~ 3.6 V
  • 工作温度-40°C ~ 85°C
  • 封装/外壳44-TSOP(0.400",10.16mm 宽)
  • 供应商设备封装44-TSOP II
  • 包装管件