CXG1006N-T4是一款由Crenic Semiconductor(创芯半导体)设计制造的N沟道功率MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管),主要用于高效率电源管理和功率转换应用。该器件采用先进的沟槽式技术制造,具备低导通电阻(Rds(on))、高耐压和优异的热稳定性,适用于开关电源(SMPS)、DC-DC转换器、电池管理系统(BMS)以及负载开关等场景。
类型:N沟道 MOSFET
漏源电压(Vds):100V
栅源电压(Vgs):±20V
连续漏极电流(Id)@25°C:6A
导通电阻(Rds(on))@Vgs=10V:≤28mΩ
导通电阻(Rds(on))@Vgs=4.5V:≤38mΩ
功率耗散(Pd):1.2W
工作温度范围:-55°C ~ +150°C
封装形式:TO-252(DPAK)
CXG1006N-T4具有多项优异的电气和热性能。首先,其低导通电阻(Rds(on))确保了在高电流下仍能保持较低的导通损耗,从而提高整体系统效率。其次,该器件支持高达100V的漏源电压,能够适应多种高压应用场景,具备良好的电压裕量。此外,其栅极驱动电压兼容4.5V至10V,适用于常见的逻辑电平驱动电路。在热管理方面,该MOSFET采用TO-252封装,具备良好的散热能力,适用于高功率密度设计。其高可靠性设计也使其适用于汽车电子、工业控制等对稳定性要求较高的领域。
从结构上看,CXG1006N-T4采用了优化的沟槽式MOSFET结构,提高了载流子迁移率,降低了导通压降。同时,其内部寄生二极管具备良好的反向恢复特性,适用于高频开关应用。该器件还具备较高的雪崩能量承受能力,增强了在异常工况下的鲁棒性。在制造工艺上,采用了先进的光刻和金属沉积技术,确保参数一致性与长期稳定性。这些特性使得CXG1006N-T4在各类功率电子系统中具有广泛的适用性与良好的性能表现。
CXG1006N-T4广泛应用于多种功率电子系统中,尤其适用于需要高效率和高稳定性的场景。在开关电源(SMPS)中,该器件可用于主开关或同步整流器,显著降低导通损耗并提升整体效率。在DC-DC转换器中,CXG1006N-T4可作为高侧或低侧开关,实现高效的电压转换。由于其良好的热性能和高可靠性,该器件也常用于电池管理系统(BMS)中作为充放电控制开关。此外,它还可用于负载开关、电机驱动电路、LED照明驱动电源以及各种工业自动化设备中的功率控制模块。在汽车电子系统中,如车载充电器(OBC)或DC-DC转换模块中,CXG1006N-T4同样表现出良好的适应性和稳定性。
SiSS100N10C-T1-E3, AO4466, IPD100N10S4-03, FDD100N10A