CPH5508-TL-E是一款由Central Semiconductor Corp生产的双P沟道增强型MOSFET阵列,采用先进的沟槽技术制造,专为高效率、低电压应用设计。该器件封装在小型化的SOT-23(SC-59)封装中,适用于空间受限的便携式电子设备。两个通道的MOSFET集成在一个芯片上,有助于减少PCB布局面积并提升系统集成度。CPH5508-TL-E特别适合用于电池供电设备中的电源管理开关、负载切换、逆向电流阻断以及逻辑电平转换等场景。由于其低导通电阻和快速开关特性,该器件能够有效降低功耗,提高系统能效。此外,该MOSFET具有良好的热稳定性和可靠性,可在较宽的温度范围内稳定工作,满足工业级和消费类电子产品的严苛要求。
型号:CPH5508-TL-E
制造商:Central Semiconductor Corp
系列:CPH5508
封装/外壳:SOT-23(SC-59)
晶体管类型:双P沟道MOSFET
漏源电压(VDS):-20V
栅源电压(VGS):±12V
连续漏极电流(ID):-4A(单通道)
脉冲漏极电流(IDM):-8A
导通电阻(RDS(on)):40mΩ(典型值,VGS = -4.5V)
阈值电压(VGS(th)):-1.0V 至 -2.5V
输入电容(Ciss):330pF(典型值,VDS=10V)
开启时间(Ton):约15ns(取决于负载条件)
关断时间(Toff):约10ns(取决于负载条件)
工作结温范围:-55°C 至 +150°C
存储温度范围:-55°C 至 +150°C
安装类型:表面贴装(SMT)
CPH5508-TL-E采用先进的沟槽型MOSFET工艺,实现了极低的导通电阻(RDS(on)),在VGS = -4.5V时典型值仅为40mΩ,这显著降低了在大电流应用中的功率损耗,提高了整体能效。该特性使其非常适合用于电池供电设备中,如智能手机、平板电脑、可穿戴设备等,这些应用场景对能效和热管理有严格要求。同时,低RDS(on)也有助于减少发热,延长设备使用寿命。
该器件具备快速的开关响应能力,开启时间和关断时间分别约为15ns和10ns,能够在高频开关应用中保持高效运行。这对于需要频繁进行电源切换或动态负载调节的系统尤为重要,例如DC-DC转换器中的同步整流或负载开关控制。快速开关不仅提升了系统的动态响应速度,还有助于减小外部滤波元件的尺寸,从而进一步节省电路板空间。
CPH5508-TL-E集成了两个独立的P沟道MOSFET,允许用户灵活配置为双路独立开关、并联使用以降低总电阻,或用于H桥驱动等复杂拓扑结构。这种集成化设计减少了外围元件数量,简化了PCB布局,并提高了系统的可靠性。此外,SOT-23小型封装使得该器件非常适合高密度组装,尤其是在空间受限的便携式电子产品中。
该MOSFET具有良好的热稳定性,在高温环境下仍能保持稳定的电气性能。其最大工作结温可达+150°C,支持在恶劣环境条件下长期可靠运行。同时,器件符合RoHS环保标准,无铅且符合现代绿色电子制造的要求。内置的体二极管也提供了反向电流保护功能,增强了系统的鲁棒性。
CPH5508-TL-E广泛应用于各类便携式电子设备中,作为电源管理单元的关键组件。其主要用途包括电池供电系统的电源开关,用于控制不同功能模块的供电通断,实现节能待机或休眠模式。在移动设备中,常用于LCD背光驱动的开关控制、USB端口的电源管理以及无线模块(如Wi-Fi、蓝牙)的供电隔离。
在DC-DC转换器中,CPH5508-TL-E可用于同步降压或升压电路中的高端开关,替代传统的肖特基二极管,从而显著提高转换效率并减少热量产生。其低导通电阻和快速开关特性使其成为高效电源转换的理想选择。
此外,该器件还适用于逻辑电平转换电路,特别是在微控制器与外围设备之间存在电压差异时,可用于实现双向电平匹配。由于其双通道设计,也可用于电机驱动或继电器驱动中的H桥拓扑结构,提供紧凑而高效的驱动方案。
在工业控制、智能家居设备、医疗电子和个人消费电子产品中,CPH5508-TL-E凭借其小型化封装、高可靠性和优异的电气性能,已成为许多设计师首选的功率开关器件。
DMG2305UX-7
Si3466EDV-T1-GE3
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