时间:2025/11/12 20:14:07
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CL21B124KBFNNNE 是三星电机(Samsung Electro-Mechanics)生产的一款多层陶瓷电容器(MLCC),属于其CL系列的高稳定性、高可靠性产品线。该型号采用标准的EIA 0805(2012公制)封装尺寸,具备良好的温度特性和电气性能,广泛应用于消费电子、通信设备、工业控制及汽车电子等领域。CL21B124KBFNNNE 的命名遵循三星的标准编码规则:'CL'代表多层陶瓷电容器,'21'表示尺寸代码(对应0805),'B'代表额定电压为50V,'124'表示电容值为120nF(即12×10? pF),'K'表示电容容差为±10%,'B'代表X7R温度特性(-55°C至+125°C,电容变化不超过±15%),而'FNNNE'为内部批次与端接结构代码,通常表示无铅兼容的镍阻挡层和锡覆盖端子(Ni-Sn电极),适用于回流焊工艺。该器件采用X7R型介电材料,具有较稳定的电容随温度和电压的变化特性,相较于Y5V或Z5U等材料更适合需要中等容量且稳定性要求较高的应用场景。其50V的额定电压使其可用于多种电源旁路、去耦、滤波和信号耦合电路中。
型号:CL21B124KBFNNNE
制造商:Samsung Electro-Mechanics
封装/尺寸:0805 (2012)
电容值:120nF (0.12μF)
容差:±10%
额定电压:50V DC
介电材料:X7R
工作温度范围:-55°C 至 +125°C
温度特性:ΔC/C ≤ ±15% (-55°C ~ +125°C)
端接类型:Ni-Sn(雾锡电镀)
安装方式:表面贴装(SMD)
老化率:典型值<2.5%/decade小时(X7R材料固有特性)
直流偏压特性:在额定电压下电容值会下降,具体依偏压曲线而定
抗湿性:符合IEC 61000-4-2 ESD标准,具备良好焊接可靠性
CL21B124KBFNNNE 采用先进的陶瓷介质制造工艺,具备优异的电容稳定性,在宽温度范围内(-55°C 至 +125°C)能够保持电容值变化不超过±15%,这得益于其使用的X7R类铁电陶瓷材料。这种材料通过掺杂改性的钡钛矿结构实现相对平坦的温度-电容曲线,适合对温度漂移敏感的应用场景,如模拟信号链中的滤波电路或电源管理模块中的去耦网络。相比高介电常数但稳定性较差的Y5V或Z5U材料,X7R在容量与稳定性之间取得了良好平衡。该器件的容差为±10%,意味着实际电容值可在108nF至132nF之间波动,这一精度等级适用于大多数非精密定时应用。
其额定直流电压为50V,能够在持续工作条件下承受该电压而不发生击穿或显著老化。然而需要注意的是,MLCC的实际可用电容会随着施加直流偏压的增加而降低,这是由于铁电材料在强电场下的极化饱和效应所致。因此在设计时应参考制造商提供的DC偏压曲线,以确保在目标工作电压下仍有足够的有效电容。例如,在接近50V偏压时,CL21B124KBFNNNE 的有效电容可能降至标称值的60%-70%左右。
该器件采用Ni-Sn端接结构,提供良好的可焊性和长期可靠性,符合RoHS指令要求,支持无铅回流焊工艺(峰值温度约260°C)。其0805封装形式在尺寸与机械强度之间取得良好平衡,既节省PCB空间又具备较强的抗热应力和板弯开裂能力。此外,该型号经过严格的质量控制流程,具备高可靠性和长寿命,适用于自动化贴片生产线,广泛用于智能手机、平板电脑、路由器、电源适配器以及车载信息娱乐系统等电子产品中。
CL21B124KBFNNNE 常用于各类电子设备中的去耦、滤波、耦合和旁路电路。在数字系统中,它常被放置于IC电源引脚附近,用作去耦电容以抑制高频噪声并稳定供电电压;在开关电源(SMPS)中,可用于输入/输出滤波环节,平滑电压纹波;在模拟信号处理电路中,可作为RC滤波器的一部分,用于低通、高通或带通滤波设计;此外,也适用于传感器接口、ADC/DAC参考电压旁路、时钟电路去噪等场合。由于其具备一定的耐压能力和温度稳定性,也可用于工业控制模块和汽车电子中的辅助电源系统。
GRM21BR71H124KA01L, C2012X7R1H124K05LB, ECJ-2VB1H124J, CL21A124KBQNNNE