CESD2510LC5VU-M 是一款基于硅锗 (SiGe) 工艺的低电容 ESD 保护二极管阵列,设计用于高速接口电路中的静电放电(ESD)保护。该器件具有超低电容特性,非常适合于高速数据线和射频信号线的保护。它能够有效防止由人体模型(HBM)、机器模型(MM)以及充电设备模型(CDM)引起的静电损害,同时确保信号完整性不受影响。
该元器件符合 IEC 61000-4-2 国际标准,并提供高达 ±25kV 的接触放电保护能力。其封装形式为紧凑型 SOT-363 封装,适合空间受限的设计。
工作电压:5V
最大箝位电压:10.8V
动态电阻:1Ω
电容:0.5pF
响应时间:1ps
最大浪涌电流:3A
额定工作温度范围:-40°C 至 +85°C
CESD2510LC5VU-M 具有以下关键特性:
1. 超低电容(0.5pF),可确保高速信号传输过程中最小的信号失真。
2. 快速响应时间(1ps),能够在瞬态事件发生时迅速箝位过压脉冲。
3. 高度可靠的静电防护能力,满足 ±25kV 接触放电和 ±30kV 空气放电要求。
4. 符合 RoHS 标准,环保无铅设计。
5. 小尺寸封装(SOT-363),节省 PCB 布局空间。
6. 支持多种高速接口应用,如 USB 3.1、HDMI 2.0 和 DisplayPort 等。
CESD2510LC5VU-M 广泛应用于需要高可靠性静电防护的场景中,典型的应用包括:
1. 消费类电子产品中的高速数据接口保护,例如智能手机、平板电脑、笔记本电脑等。
2. 工业控制设备中的传感器和通信模块保护。
3. 音视频设备中的 HDMI、DisplayPort 和其他高速视频接口防护。
4. 网络通信设备中的以太网端口和其他高速信号线路防护。
5. 医疗电子设备中的敏感输入输出端口保护。
PESD25LC5VSMA, SP1017SG-5-L, SM712