型号：CD74HCT280M
　　制造商：Texas Instruments
　　系列：HCT
　　逻辑功能：9位奇偶产生/校验
　　封装类型：SOIC-16
　　供电电压范围：4.5V 至 5.5V
　　输入电平兼容：TTL
　　输出类型：推挽式CMOS
　　传播延迟典型值（tpd）：18ns（@ VCC=5V, CL=50pF）
　　静态电流最大值（ICC）：8μA（@ VCC=5.5V）
　　工作温度范围：-55°C 至 +125°C
　　引脚数：16
　　逻辑电平：5V CMOS
　　上升/下降时间典型值：15ns
　　最大输出电流：±6mA（每输出）
　　噪声容限：高于标准CMOS

CD74HCT280M具备优异的电气特性和功能可靠性，是高性能数字系统中实现数据完整性验证的关键元件之一。其核心优势在于将奇偶校验逻辑高度集成于单一芯片内，显著简化了外部电路设计复杂度。该器件支持两种基本操作模式——奇偶生成与奇偶校验。在生成模式下，用户可将8位有效数据输入至A-H引脚，芯片自动计算出相应的奇数或偶数校验位，并通过ΣODD或ΣEVEN输出端提供结果。而在校验模式下，所有9个输入位（包括原始数据和附加的校验位）被同时处理，输出端会指示整个字节是否满足预设的奇偶规则。这种双向功能使得CD74HCT280M不仅可用于串行通信中的实时校验，也可应用于内存模块、总线接口以及多处理器系统中的错误检测机制。
　　该芯片采用先进的硅栅CMOS工艺制造，确保了极低的静态功耗，尤其适用于电池供电或对能效要求较高的系统。尽管其动态功耗随频率升高而增加，但在大多数常规工作频率下仍远低于等效双极型逻辑器件。此外，HCT系列特有的TTL电平兼容输入允许其直接与74LS、74ALS等老式逻辑系列无缝对接，无需额外电平转换电路，极大提升了系统升级和混合设计的便利性。器件还具备较强的驱动能力，每个输出引脚可提供最高±6mA的驱动电流，足以驱动多个下游负载或长距离走线。
　　另一个重要特性是其出色的抗噪性能。由于CMOS结构本身具有较高的噪声容限，加上内部优化的布局布线设计，CD74HCT280M能在电磁干扰较严重的工业环境中稳定运行。其宽泛的工作温度范围（-55°C至+125°C）也使其适用于航空航天、军事设备及高温工业控制系统等极端应用场景。所有输入端均内置保护二极管，防止静电放电（ESD）造成的损伤，提高了现场使用的耐用性。此外，该器件符合RoHS环保标准，无铅且不含有害物质，适应现代绿色电子产品的设计需求。

CD74HCT280M广泛应用于需要高可靠性和数据完整性的数字系统中。常见用途包括计算机系统中的内存模块奇偶校验，用于检测DRAM或SRAM读写过程中的单比特错误，提升系统稳定性。在通信领域，该芯片可用于串行或并行数据链路的错误检测，例如UART、PCI总线、ISA总线等接口中，配合微控制器或FPGA使用，构建完整的数据校验机制。工业自动化控制系统中，常将其集成于PLC模块或远程I/O单元中，确保现场设备与中央控制器之间数据传输的准确性。此外，在嵌入式系统和工控机中，该器件可用于地址总线或数据总线的奇偶校验，防止因干扰导致的程序跑飞或数据损坏。
　　在测试测量仪器中，CD74HCT280M可用于自检电路的设计，定期验证关键路径的数据一致性。航空航天与国防电子系统中，因其宽温特性和高可靠性，常被用于飞行控制计算机、雷达信号处理单元等关键子系统中，执行周期性健康监测。医疗设备如监护仪、影像系统等对数据安全要求高的场合，也可利用该芯片增强数据通道的容错能力。此外，教育实验平台和数字逻辑教学套件中，CD74HCT280M作为典型的组合逻辑应用实例，帮助学生理解奇偶校验原理及其在实际工程中的实现方法。由于其易于使用且功能明确，该器件也成为许多原型开发和小批量项目中的首选解决方案。

SN74HCT280N
　　CD74HC280M