CBR06C709D1GAC是一款基于氮化镓(GaN)技术的高电子迁移率晶体管(HEMT),专为高频、高效能应用而设计。该器件采用先进的封装工艺,具有出色的开关特性和低导通电阻,适用于通信设备、电源转换器以及射频功率放大器等应用场景。
其核心技术优势来源于GaN材料的高击穿场强和高电子饱和速度,使得CBR06C709D1GAC能够在高频条件下保持高效率和低损耗。
额定电压:650V
导通电阻:45mΩ
最大漏极电流:20A
栅极电荷:80nC
输出电容:90pF
反向恢复时间:无(由于GaN结构不涉及反向恢复问题)
工作温度范围:-55℃ 至 +150℃
CBR06C709D1GAC的主要特性包括:
1. 高效能量转换:得益于低导通电阻和快速开关特性,器件在高频操作时表现出卓越的效率。
2. 快速开关能力:由于氮化镓技术的特点,开关速度极快,适合高频应用。
3. 小型化设计:紧凑的封装形式有助于减少整体系统尺寸,提升功率密度。
4. 热稳定性强:宽广的工作温度范围使其能够适应各种恶劣环境条件。
5. 集成保护功能:内置过温保护和短路保护机制,增强了系统的可靠性。
CBR06C709D1GAC广泛应用于以下领域:
1. 电源管理:如DC-DC转换器、PFC(功率因数校正)电路。
2. 射频与微波:用于射频功率放大器的设计,特别适用于5G基站和其他无线通信设备。
3. 工业控制:如电机驱动器、伺服控制系统。
4. 消费电子:例如快速充电器、适配器。
5. 新能源:太阳能逆变器、电动汽车充电桩等新能源相关设备。
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