AS2D-6M-10-Z是一款由Advanced Linear Devices(ALD)公司生产的特殊用途模拟开关阵列器件,属于其超低功耗、高精度CMOS集成电路产品线的一部分。该器件集成了多个独立的模拟开关,专为需要极低漏电流、高输入阻抗和精密信号切换的应用而设计。由于其采用先进的自举零温度漂移(Zero-Drift)CMOS技术,AS2D-6M-10-Z能够在宽温度范围内保持极高的信号完整性和稳定性,适用于对精度要求极为严苛的测试测量、医疗设备、工业自动化和高分辨率数据采集系统。该器件通常采用小型化封装,适合在空间受限的高密度电路板上使用。其名称中的'6M'可能指器件内部包含6个独立的模拟开关通道,'10-Z'则可能代表特定的配置版本或封装形式及引脚布局。AS2D-6M-10-Z特别适用于微弱信号处理场景,例如光电二极管电流切换、传感器多路复用、电荷积分器重置等应用,能够显著降低传统模拟开关带来的信号失真和偏移误差。
型号:AS2D-6M-10-Z
制造商:Advanced Linear Devices (ALD)
通道数量:6
开关类型:单刀单掷(SPST)模拟开关
供电电压范围:±5V 至 ±15V(双电源)或 +5V 至 +15V(单电源)
导通电阻:典型值 50 Ω
导通电阻温漂:低至 ±5 ppm/°C
漏电流:典型值 < 1 pA(25°C)
关断隔离度:> 60 dB @ 10 kHz
带宽:> 1 MHz
建立时间:≤ 1 μs
输入电压范围:接近电源轨(Rail-to-Rail)
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
封装形式:DIP-14 或 SOIC-14(具体以数据手册为准)
AS2D-6M-10-Z的核心特性之一是其采用ALD独有的自举零温度漂移CMOS技术,这项技术通过内部自校准机制持续补偿晶体管阈值电压的温漂和老化效应,从而实现极低的直流误差和长期稳定性。这种设计使得模拟开关在长时间运行或环境温度变化较大的情况下仍能保持一致的性能表现,避免了传统CMOS开关因Vth漂移导致的导通电阻变化和信号失真问题。
另一个关键特性是其超低的漏电流,典型值低于1皮安(pA),这使得AS2D-6M-10-Z非常适合用于高阻抗信号源的切换,如光电探测器输出、离子敏感场效应晶体管(ISFET)或压电传感器等。在这种应用中,任何微小的泄漏都可能导致信号积分误差或响应延迟,而AS2D-6M-10-Z几乎可以忽略不计的漏电流确保了信号路径的纯净性。
该器件还具备出色的导通电阻匹配性和温漂特性,通道之间的电阻差异极小,且随温度变化非常稳定,这对于需要多通道同步采样或比例测量的应用至关重要。此外,其接近电源轨的输入电压范围支持全动态信号传输,提升了系统的动态范围利用率。
AS2D-6M-10-Z的开关控制逻辑兼容标准TTL/CMOS电平,便于与数字控制器(如微处理器或FPGA)直接接口。其结构设计优化了电荷注入和时钟馈通效应,进一步减少了开关瞬态对精密模拟信号的影响。这些综合特性使其成为高端仪器仪表、自动测试设备(ATE)、生物电信号采集系统以及航空航天电子系统中的理想选择。
AS2D-6M-10-Z广泛应用于对信号完整性要求极高的精密电子系统中。在医疗设备领域,它被用于多通道生物电势放大器前端,例如心电图(ECG)、脑电图(EEG)和肌电图(EMG)系统中,作为传感器输入的选择开关,确保微弱生理信号在切换过程中不受干扰或衰减。其超低漏电流和高输入阻抗特性可有效防止信号损失,提高诊断准确性。
在测试与测量仪器中,AS2D-6M-10-Z常用于高精度万用表、示波器前端模块或多路复用数据采集系统,负责将多个待测信号依次接入同一测量通道。由于其极低的非线性失真和稳定的导通电阻,能够保证测量结果的高度重复性和准确性,尤其是在进行微伏级电压测量时表现出色。
工业自动化和过程控制领域也广泛应用该器件,例如在多点温度巡检系统中切换热电偶或RTD传感器信号,或在气体分析仪中轮询多个传感器输出。其宽温区稳定性和长期可靠性满足工业现场恶劣环境下的运行需求。
此外,在科研类设备如扫描探针显微镜(SPM)、光电倍增管读出电路或粒子探测器前端电路中,AS2D-6M-6M-10-Z用于控制反馈回路或重置积分电容,利用其极低的电荷注入和暗电流特性,保障实验数据的精确采集。其在航空航天和国防领域的应用包括卫星遥感信号调理、惯性导航系统中的传感器切换等,体现出其在高可靠性系统中的价值。
ALD1701
AS2D-6M-10