AFE58JD28ZAV 是 Texas Instruments(德州仪器)推出的一款高性能模拟前端(AFE)集成电路,专门用于超声波成像系统。该芯片集成了多个关键功能模块,包括低噪声放大器(LNA)、可变增益放大器(VGA)、抗混叠滤波器(AAF)、模数转换器(ADC)以及数字信号处理模块。AFE58JD28ZAV 支持多通道并行处理,适用于医疗超声、工业超声检测等高精度信号采集场景。该芯片采用先进的 CMOS 工艺制造,具有高集成度、低功耗和优异的噪声性能。
型号:AFE58JD28ZAV
制造商:Texas Instruments
封装类型:FCBGA
通道数:8 通道
LNA 增益:24 dB 或 30 dB 可选
VGA 增益范围:0 dB 至 30 dB,步进 1 dB
ADC 分辨率:12 位
ADC 采样率:最大 65 MSPS
噪声系数(NF):<1.5 dB(典型值)
电源电压:1.1 V、1.8 V、3.3 V 多电源供电
工作温度范围:-40°C 至 +105°C
封装尺寸:12 mm x 12 mm
AFE58JD28ZAV 是一款专为高性能超声波系统设计的模拟前端芯片,具有高度集成的信号链模块。该芯片内置 8 个完整的接收通道,每个通道均包含低噪声放大器(LNA)、可变增益放大器(VGA)、抗混叠滤波器(AAF)以及 12 位高速 ADC。LNA 提供 24 dB 或 30 dB 的增益选择,支持高灵敏度信号接收。VGA 的增益调节范围为 0 至 30 dB,步进为 1 dB,便于精确控制信号动态范围。AAF 可有效抑制高频干扰,防止混叠现象的发生。ADC 最大采样率为 65 MSPS,支持宽带信号采集,适用于高分辨率超声成像。AFE58JD28ZAV 采用低功耗设计,在全速运行时仍能保持良好的能效表现。此外,该芯片还支持多种工作模式,包括低功耗待机模式和多种增益控制模式(自动增益控制 AGC 或手动增益控制 MGC),以适应不同的系统需求。AFE58JD28ZAV 提供 12 mm x 12 mm 的 FCBGA 封装,适合用于空间受限的便携式或嵌入式超声设备。
AFE58JD28ZAV 主要应用于医疗超声成像设备,如便携式超声仪、彩色多普勒超声系统、超声内窥镜等。其高集成度和优异的噪声性能使其成为高端医疗设备的理想选择。此外,该芯片也可用于工业超声检测系统,例如超声探伤仪、超声测厚仪等。AFE58JD28ZAV 的多通道并行处理能力使其适用于需要多通道信号同步采集的应用场景,例如相控阵超声检测。由于其支持多种增益控制模式和灵活的接口配置,也适用于需要高性能模拟信号链的科研仪器和测试设备。
AFE58JD28ZAVG4