您好,欢迎来到维库电子市场网 登录 | 免费注册

您所在的位置:电子元器件采购网 > IC百科 > ADRF5026BCCZN

ADRF5026BCCZN 发布时间 时间:2025/11/4 17:21:29 查看 阅读:8

ADRF5026BCCZN是一款由Analog Devices Inc.(ADI)推出的高性能射频(RF)开关,专为广泛的工作频率范围和高功率处理能力而设计。该器件属于ADI的Advanced RF Switch系列,采用先进的硅基工艺制造,提供了卓越的线性度、低插入损耗和高隔离度,适用于要求严苛的通信系统。ADRF5026BCCZN是一款单刀双掷(Single-Pole Double-Throw, SPDT)开关,能够在高达6 GHz的频率范围内可靠工作,使其非常适合用于蜂窝基础设施、工业、科学与医疗(ISM)频段设备、测试与测量仪器以及宽带无线系统等应用。该器件集成了片上控制逻辑,支持直接与数字控制器(如微处理器或FPGA)接口,无需外部电平转换电路,从而简化了系统设计并减少了整体元件数量。其封装采用紧凑型3 mm × 3 mm LFCSP(引脚架构芯片级封装),有助于在空间受限的应用中实现高密度布局。
  ADRF5026BCCZN具备出色的功率处理能力,能够承受连续波(CW)高达+39 dBm(约8 W)的输入功率,并且在高功率信号下仍能保持良好的互调性能,确保系统的信号完整性不受影响。此外,该器件还具有快速的开关切换时间(典型值小于1 μs),适用于需要动态切换天线路径或多路复用射频信号的场景。为了提高系统可靠性,ADRF5026BCCZN内置了ESD保护机制,可提供高达±2 kV HBM(人体模型)的静电放电防护,增强了器件在实际生产、装配和运行环境中的鲁棒性。

参数

类型:射频开关
  配置:SPDT
  工作频率:DC至6 GHz
  供电电压:2.3 V至5.5 V
  控制接口:CMOS/TTL兼容
  插入损耗:典型值0.4 dB(在2 GHz)
  隔离度:典型值45 dB(在2 GHz)
  P1dB压缩点:+38 dBm
  IIP3(三阶交调截点):+70 dBm
  切换时间:上升/下降时间 < 1 μs
  ESD保护:±2 kV HBM
  封装类型:3 mm × 3 mm LFCSP
  工作温度范围:-40°C 至 +105°C

特性

ADRF5026BCCZN具备多项关键特性,使其在现代射频系统中脱颖而出。首先,它采用了先进的硅基互补金属氧化物半导体(Si CMOS)工艺制造,这种技术不仅实现了优异的高频性能,还显著提升了器件的功率处理能力和热稳定性。相比传统的砷化镓(GaAs)开关,Si CMOS工艺避免了负电源需求,并简化了控制逻辑设计,使得ADRF5026BCCZN可以直接通过正电源供电并与标准数字逻辑电平无缝对接。这一特性极大降低了系统复杂性和成本,同时提高了集成度。
  其次,该器件在宽频率范围内表现出极低的插入损耗和高隔离度。例如,在2 GHz频率下,插入损耗典型值仅为0.4 dB,这意味着大部分输入信号能量可以高效传输到输出端口,减少不必要的功率损失;而45 dB的隔离度则有效抑制了非选通路径的信号泄漏,防止串扰对系统性能造成干扰。这对于多通道接收机前端、双工器旁路开关或天线调谐模块至关重要。
  再者,ADRF5026BCCZN支持高功率射频信号处理能力,其P1dB压缩点高达+38 dBm,IIP3达到+70 dBm,表明其在强信号环境下仍能保持高度线性响应,避免产生有害的非线性失真产物。这使得它特别适合部署在基站发射链路、高功率放大器(HPA)开关矩阵或雷达系统中。
  此外,该器件内置控制逻辑解码电路,允许用户通过简单的两线式控制信号(如EN和SEL引脚)来选择所需的射频路径,无需外加译码器或驱动器。结合其快速切换时间(<1 μs),可满足实时射频路由切换的需求,例如在MIMO系统中进行天线分集切换或在测试设备中实现自动测试序列的高速通道切换。
  最后,ADRF5026BCCZN采用小型化LFCSP封装,不仅节省PCB面积,而且具有良好的热传导性能,有助于将内部功耗产生的热量迅速散发出去,提升长期运行的可靠性。其宽温工作范围(-40°C至+105°C)也确保了在恶劣工业环境下的稳定运行。综合来看,这些特性使ADRF5026BCCZN成为高性能射频开关应用的理想选择。

应用

ADRF5026BCCZN广泛应用于多个高性能射频领域。在蜂窝通信基础设施中,它常用于宏基站和小基站的射频前端模块,作为天线开关、滤波器切换开关或双工器旁路开关,以实现频段选择和信号路径优化。在工业、科学与医疗(ISM)频段设备中,例如433 MHz、915 MHz和2.4 GHz无线电系统,该器件可用于构建多频段或多模式收发器前端,支持灵活的频率切换。在测试与测量仪器方面,如矢量网络分析仪(VNA)或自动测试设备(ATE),ADRF5026BCCZN可用于构建多端口射频开关矩阵,实现被测器件(DUT)的自动化测试和通道切换,其高隔离度和低损耗保证了测量精度。此外,在宽带无线接入系统,如Wi-Fi 6E接入点或固定无线接入(FWA)终端中,该器件可用于天线切换或波束成形网络中的路径选择,提升系统吞吐量和连接稳定性。由于其高功率耐受能力,ADRF5026BCCZN也可用于高功率放大器(HPA)开关阵列或雷达系统的T/R模块中,实现发射与接收路径的安全切换。其紧凑尺寸和表面贴装封装也使其适用于便携式或高密度射频模块设计。

替代型号

ADRF5025BCCZN
  ADRF5027BCCZN
  HMC346ALC4TR

ADRF5026BCCZN推荐供应商 更多>

  • 产品型号
  • 供应商
  • 数量
  • 厂商
  • 封装/批号
  • 询价

ADRF5026BCCZN产品

ADRF5026BCCZN参数

  • 现有数量2,407现货
  • 价格1 : ¥841.34000散装
  • 系列-
  • 包装散装
  • 产品状态在售
  • 射频类型VSAT
  • 拓扑吸收
  • 电路SPDT
  • 频率范围100MHz ~ 44GHz
  • 隔离45dB
  • 插损3.8dB
  • 测试频率44GHz
  • P1dB27dBm
  • IIP353dBm
  • 特性-
  • 阻抗50 欧姆
  • 电压 - 供电3.15V ~ 3.45V
  • 工作温度-40°C ~ 105°C
  • 安装类型表面贴装型
  • 封装/外壳20-WFLGA 裸露焊盘
  • 供应商器件封装20-LGA(3x3)