时间：2025/12/25 20:41:15
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ADN2870ACPZ是一款由Analog Devices（亚德诺半导体）推出的高性能、低功耗、双通道跨阻放大器（TIA, Transimpedance Amplifier），专为高速光通信接收器应用而设计。该器件采用先进的SiGe工艺制造，具备优异的增益、带宽和噪声性能，适用于需要高灵敏度和高动态范围的光电探测系统。ADN2870ACPZ每个通道均集成了跨阻放大器和后置放大器，支持高达2.7 Gbps的数据速率，广泛应用于千兆以太网、无源光网络（PON）、光纤到户（FTTH）、光收发模块以及工业和电信领域的短距离至中距离光通信系统中。该芯片提供出色的信号完整性，具备可调节的输出摆幅控制功能，并支持电源关断模式以降低待机功耗。其封装形式为16引脚LFCSP（3 mm × 3 mm），适合高密度PCB布局，同时具有良好的热稳定性和电磁兼容性。ADN2870ACPZ工作温度范围为-40°C至+85°C，满足工业级环境要求，是中小批量光模块设计中的理想选择之一。
型号：ADN2870ACPZ
制造商：Analog Devices
通道数：双通道
技术工艺：SiGe
数据速率：最高2.7 Gbps
跨阻增益：典型值50 kΩ
带宽：典型值1.8 GHz
输入偏置电流：典型值10 nA
电源电压：3.0 V 至 3.6 V
功耗：每通道约65 mW（正常工作模式）
关断模式功耗：小于1 mW
输出电压摆幅：可调，最大差分峰峰值约600 mV
输入接口：兼容PIN和APD光电二极管
工作温度范围：-40°C 至 +85°C
封装类型：16引脚 LFCSP (3 mm × 3 mm)
ADN2870ACPZ具备卓越的跨阻放大性能，其核心优势在于高带宽与低噪声的平衡设计。每个通道均采用优化的跨阻架构，在保持高达1.8 GHz带宽的同时，实现极低的输入等效噪声电流（典型值低于4 pA/√Hz），从而确保在低光功率条件下仍能维持高信噪比，提升接收灵敏度。该器件支持宽动态范围输入信号处理能力，能够适应从微弱光信号到较强光信号的连续变化，避免因信号波动导致失真或饱和。内部集成的后置限幅放大器具备可编程输出摆幅控制功能，允许用户根据后续时钟数据恢复（CDR）电路的需求调节输出电平，增强了系统的互操作性和灵活性。
该芯片还集成了通道独立的关断功能，可通过外部逻辑信号关闭任意一个或两个通道，显著降低系统待机状态下的整体功耗，适用于对能效有严格要求的应用场景。此外，ADN2870ACPZ具有良好的直流耦合特性，无需外部交流耦合电容即可实现稳定的基线恢复，简化了外围电路设计并减小了占板面积。其差分输出结构提供了优良的共模抑制能力，有效减少串扰和电磁干扰的影响，提升了信号传输质量。所有引脚均经过ESD保护设计，增强了器件在实际装配和运行过程中的可靠性。得益于Analog Devices成熟的SiGe工艺平台，ADN2870ACPZ在温度变化环境下表现出稳定的增益和相位响应，适用于长期运行的通信设备。
ADN2870ACPZ主要用于高速光接收模块中，作为将光电二极管产生的微弱电流信号转换为可用电压信号的关键组件。典型应用场景包括千兆比特无源光网络（GPON、EPON）光线路终端（OLT）和光网络单元（ONU）中的接收部分，支持上下行数据解码。它也广泛用于SFP（小型可插拔）光模块、XFP模块以及其他紧凑型光收发器中，适用于1.25 Gbps和2.5 Gbps速率的光纤通信链路。在数据中心内部互联、企业级交换机和路由器的光接口中，ADN2870ACPZ凭借其高集成度和稳定性，成为实现低成本、高性能光接收方案的重要选择。
此外，该器件还可应用于工业自动化领域的高速光传感系统，例如激光测距、条码扫描和光学编码反馈控制等需要快速响应光强变化的场合。在测试与测量仪器中，如光功率计和误码率测试仪，ADN2870ACPZ可用于前端信号调理，提高检测精度。由于其双通道设计，也可用于空间分集接收系统或多通道并行光通信架构中，提升抗干扰能力和传输鲁棒性。总之，任何需要将高速光信号转化为电信号且对尺寸、功耗和性能有综合要求的应用，均可考虑使用ADN2870ACPZ作为核心TIA解决方案。
ADN2871ACPZ-R7
MAX3808ESA+
LMH6550
