型号：AD567KD
　　制造商：Analog Devices
　　分辨率：12位
　　输出类型：电压输出
　　积分非线性（INL）：±1 LSB（典型）
　　微分非线性（DNL）：±1 LSB（典型）
　　建立时间：0.6 μs（至±1/2 LSB）
　　输出电压范围：0 V 至 +10 V（可配置）
　　电源电压：±14.25 V 至 ±15.75 V
　　工作温度范围：-55°C 至 +125°C
　　接口类型：并行输入
　　封装类型：CDIP24（陶瓷双列直插）
　　是否内置缓冲放大器：是
　　增益误差：±0.3% FSR（满量程范围）
　　增益温漂：5 ppm/°C（典型）
　　失调误差：±1 mV（典型）
　　失调温漂：0.5 μV/°C（典型）
　　功耗：约 300 mW

AD567KD具备卓越的精度与稳定性，其核心优势在于采用了激光修整薄膜电阻网络，这不仅保证了芯片在全温度范围内保持优异的线性表现，还显著降低了长期使用过程中的参数漂移。其12位分辨率意味着它可以将数字输入信号转换为4096个离散的模拟电压等级，从而实现非常精细的电压控制。更重要的是，该器件在整个工作温度范围内的积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）均控制在±1 LSB以内，这对于避免转换过程中的失码（missing codes）至关重要，确保了输出的单调性和准确性。
　　另一个关键特性是其快速的建立时间，仅为0.6微秒即可达到±1/2最低有效位（LSB）的稳定状态，这一性能使其能够在高速数据更新的应用中保持良好的动态响应能力。同时，片内集成的输出缓冲放大器不仅简化了外部电路设计，还能有效隔离DAC核心与负载之间的相互影响，提高系统的抗干扰能力和输出驱动能力。该缓冲器具有低输出阻抗和高开环增益，有助于维持输出电压的精确性，即使在变化的负载条件下也能保持稳定。
　　AD567KD采用密封陶瓷DIP封装，具备出色的防潮、抗腐蚀和热稳定性，适合极端环境下的长期运行。其宽温工作范围（-55°C至+125°C）使其可用于航空航天、国防电子等严苛应用场景。此外，该器件的低失调误差（±1mV）和极低的温漂系数（0.5μV/°C）进一步增强了其在精密测量和控制任务中的适用性。电源抑制比（PSRR）和共模抑制能力强，对外部电源波动不敏感，提升了整体系统可靠性。虽然其为并行接口设计，占用较多引脚，但在追求极致性能而非空间紧凑性的场合仍具不可替代价值。

AD567KD广泛应用于对精度、稳定性和可靠性要求极高的领域。在自动测试设备（ATE）中，它被用作高精度信号源，用于校准和测试其他电子组件或模块，确保测试结果的一致性和可重复性。在精密仪器仪表中，如高分辨率示波器、函数发生器和数字万用表中，AD567KD负责生成基准电压或扫描信号，支持设备实现微伏级别的测量分辨率。在工业过程控制和闭环伺服系统中，该DAC用于将控制器输出的数字控制量转化为模拟控制电压，驱动执行机构（如阀门、电机驱动器），实现精准的过程调节。
　　此外，在数据采集系统的反向路径中，即需要将处理后的数字数据还原为模拟信号进行输出时，AD567KD也发挥着重要作用。在航空航天和军事电子系统中，由于其陶瓷封装和宽温特性，常用于飞行控制系统、雷达信号处理单元以及导航设备中的偏置调节和增益控制电路。科研实验装置中也需要此类高稳定性DAC来生成长时间不变的激励信号或参考电平。尽管现代趋势倾向于串行接口和更高集成度的解决方案，但AD567KD因其经过验证的可靠性和卓越的模拟性能，在许多关键任务系统中仍然被视为首选器件之一。

AD567JN
　　AD567KP
　　AD567KH
　　AD567SD