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3404G-P08-R 发布时间 时间:2025/12/27 8:20:40 查看 阅读:11

3404G-P08-R是一款由Diodes Incorporated生产的通用四通道N沟道MOSFET阵列,采用先进的TrenchFET?技术制造。该器件集成了四个独立的N沟道MOSFET晶体管,封装在小型化的PQFN(Power Quad Flat No-leads)封装中,适用于空间受限的高密度电路设计。每个MOSFET都经过优化,可在低电压逻辑控制下实现高效的开关性能,适合用于负载开关、电源管理、电机驱动以及信号路由等多种应用场合。该器件具有低导通电阻、高开关速度和良好的热性能,能够在工业、消费电子和便携式设备中稳定运行。其栅极阈值电压与3.3V和5V逻辑电平兼容,便于直接连接微控制器或其他数字控制信号源。
  3404G-P08-R的设计注重功耗与效率的平衡,特别适用于电池供电系统或对能效要求较高的场景。PQFN封装不仅减小了PCB占用面积,还通过底部散热焊盘有效提升了散热能力,从而增强器件在持续负载下的可靠性。该产品符合RoHS环保标准,并支持无铅焊接工艺,满足现代电子产品对环保和可制造性的双重需求。

参数

类型:N沟道MOSFET阵列
  通道数:4
  最大漏源电压(VDS):30V
  最大栅源电压(VGS):±20V
  连续漏极电流(ID) @ 25°C:1.9A
  脉冲漏极电流(IDM):7.6A
  导通电阻(RDS(on)) @ VGS = 10V:40mΩ
  导通电阻(RDS(on)) @ VGS = 4.5V:50mΩ
  导通电阻(RDS(on)) @ VGS = 2.5V:80mΩ
  栅极电荷(Qg) @ 10V:5.5nC
  输入电容(Ciss):420pF
  开启延迟时间(td(on)):7ns
  关断延迟时间(td(off)):18ns
  反向恢复时间(trr):14ns
  工作结温范围(Tj):-55°C 至 +150°C
  封装类型:PQFN(2mm x 2mm)

特性

3404G-P08-R的核心优势在于其基于TrenchFET?技术构建的高性能N沟道MOSFET结构,这项技术通过优化沟道几何形状和掺杂分布,显著降低了导通电阻RDS(on),同时保持了快速的开关响应能力。在VGS=10V时,单个MOSFET的典型RDS(on)仅为40mΩ,而在更低的驱动电压如4.5V和2.5V下仍能维持50mΩ和80mΩ的低阻状态,这使其非常适合由低压逻辑信号直接驱动的应用,无需额外的电平转换电路。这种低阈值特性不仅简化了系统设计,也减少了整体功耗,尤其有利于节能型设备的设计。
  该器件具备出色的动态性能参数,包括仅5.5nC的总栅极电荷和420pF的输入电容,意味着驱动所需的能量较少,能够实现更高的开关频率而不增加驱动损耗。开启延迟时间为7ns,关断延迟为18ns,结合14ns的体二极管反向恢复时间,使得3404G-P08-R在高频PWM控制中表现出色,例如DC-DC转换器或LED调光电路。此外,四个独立通道的设计允许灵活配置,可用于并联以提高电流承载能力,或分别控制多个负载路径,实现精确的电源域管理。
  PQFN封装尺寸仅为2mm x 2mm,极大节省了PCB空间,同时其底部带有裸露散热焊盘,可通过PCB上的热过孔将热量高效传导至内层或底层,从而提升功率密度和长期运行稳定性。该器件的工作结温范围宽达-55°C至+150°C,确保在极端环境条件下仍能可靠工作,适用于汽车电子、工业自动化等严苛应用场景。内置的ESD保护二极管增强了栅极耐压能力,±20V的栅源电压容限提高了抗干扰能力和操作安全性。

应用

3404G-P08-R广泛应用于需要紧凑布局和高效开关控制的电子系统中。常见用途包括便携式电子设备中的负载开关,例如智能手机和平板电脑中的显示屏背光控制、摄像头模块供电管理或外设电源启停;在电池管理系统中,可用于充放电通路的开关控制,利用其低导通电阻减少能量损耗,延长续航时间。
  在电源转换领域,该器件可作为同步整流MOSFET用于低压DC-DC降压变换器,替代传统肖特基二极管以提高转换效率。其快速开关特性也适用于脉宽调制(PWM)驱动电路,如小型直流电机调速、电磁阀控制或继电器驱动等工业控制场景。此外,在多路信号切换或多通道传感器供电控制中,四个独立MOSFET可实现精准的时序控制和隔离,避免串扰和启动冲击电流。
  由于其逻辑电平兼容性良好,3404G-P08-R常被用于微控制器GPIO扩展应用,当MCU输出电流不足以直接驱动负载时,可用该芯片作为缓冲放大器。在热插拔电路设计中,它也能充当软启动开关,限制浪涌电流,保护后级电路。其他应用还包括LED驱动、USB电源开关、IoT节点电源管理以及各类嵌入式系统的电源域切换功能。凭借高集成度、小尺寸和高可靠性,该器件已成为现代高密度电子设计中的关键元件之一。

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