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2014VS-66NMED 发布时间 时间:2025/12/27 23:23:20 查看 阅读:16

2014VS-66NMED 是一款由 Microsemi(现为 Microchip Technology 公司的一部分)生产的高可靠性、抗辐射加固的双通道隔离式栅极驱动器芯片,专为航空航天、国防和高可靠性工业应用中的功率MOSFET和IGBT驱动而设计。该器件采用先进的绝缘材料和封装技术,能够在极端环境条件下稳定工作,包括高温、高辐射和剧烈温度循环等恶劣工况。2014VS-66NMED 属于 Microsemi 的 Space-Grade(航天级)产品线,符合 MIL-PRF-38535 Class V 或 QML-V/Q 标准,具备完整的流程控制、筛选测试和可追溯性,适用于对系统可靠性要求极为严苛的应用场景。
  该器件集成了两个独立的高压侧和低压侧栅极驱动通道,支持半桥拓扑结构,可用于DC-DC转换器、电机驱动器、电源逆变器以及卫星电源管理系统中。其核心优势在于采用了专利的数字隔离技术,通过基于CMOS工艺的电容隔离层实现输入与输出之间的电气隔离,提供高达5000 VRMS以上的隔离电压能力,并具备出色的共模瞬态抗扰度(CMTI),典型值超过100 kV/μs,确保在高频开关噪声环境下仍能可靠运行。此外,2014VS-66NMED 还具备低传播延迟、匹配精度高、温度稳定性好等特点,有助于提升整个功率系统的效率与动态响应性能。

目录

参数

制造商:Microchip Technology (原 Microsemi)
  产品系列:2014VS
  类型:双通道隔离式栅极驱动器
  通道类型:高低边双路输出
  输入类型:数字信号(兼容TTL/CMOS)
  供电电压(VDD):15 V 至 18 V(主电源)
  逻辑侧电压(VCC):3.3 V 或 5 V
  峰值输出电流:±6 A(典型值)
  输出驱动电压范围:-10 V 至 +20 V
  隔离电压:≥5000 VRMS(1分钟,符合UL1577标准)
  共模瞬态抗扰度(CMTI):>100 kV/μs(典型值)
  传播延迟:≤100 ns
  延迟匹配:≤25 ns
  工作温度范围:-55°C 至 +125°C
  封装形式:Ceramic DIP-16(带屏蔽引脚)
  抗辐射性能:SEL 常规剂量率下无单粒子闩锁(符合MIL-STD-883 Method 5007)
  总电离剂量(TID):≥100 krad(Si)

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