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顺序式X射线荧光光谱仪
阅读:608时间:2018-06-27 09:20:40

顺序式X射线荧光光谱仪,成份分析仪器,主要用于各种岩矿和建材的分析。

用途

  F-U;分析含量范围:微量(ppm)一常量(%)主要用于各种岩矿和建材的分析,如:硅酸盐、硅铝酸盐、碳酸盐、磷灰石、铝土矿、水泥、陶瓷、土壤、烟尘粒的主元素及微量元素的分析。主元素(氧化物形式):SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5;微量元素:Ba、Co、Cr、Cu、Ga、Nb、Ni、Pb、Rb、Sr、Th、V、Y、Zn、Zr

指标信息

  3KW,端窗型Rh靶。分光晶体:LiF200,LiF220,PET,Ge,TAP,计算机全程自动控制,θ-2θ角独立驱动,2θ扫描速度最大1200°/min,连续扫描速度0.1~180°/min,扫描角范围:sc:5~118°(2θ),PC:7~148°(2θ),步进扫描:0.002~1.0°,停止位置重复性小于0.001°.高压供给:SC:500~1000V,FPC:1500~2500V;计数线性:SC:1000kcps;FPC:2000kcps工作站:硬件:Sun工作站,OS:UNIX(多任务,多窗口),软件:定量分析:FP法,背景FP法,工作曲解法,在线重校正,基本效应校正4种类型回归曲线,定性分析:平滑化、背景校正、自动选峰、定性鉴别,用函数拟合剥离峰,灵敏度自动控制制样方法:玻璃片法和粉末压片法

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